Record mondial de précision à l’Institut Paul Scherrer (PSI)

Keystone-SDA

(Keystone-ATS) L’Institut Paul Scherrer (PSI) à Villigen (AG) a établi nouveau un record mondial de précision avec des rayons X. Les chercheurs ont scruté l’intérieur d’une puce informatique et ils ont obtenu une image avec une résolution de 4 nanomètres.

C’est une première et un nouveau record du monde, a indiqué vendredi le PSI, qui a collaboré avec l’EPFL, l’EPFZ et l’University of Southern California pour réaliser cet exploit. Les images tridimensionnelles d’une aussi haute résolution permettent de faire des progrès aussi bien dans les technologies de l’information que dans les sciences de la vie.

Pour obtenir l’image d’une résolution de 4 nanomètres (4 millionièmes de millimètre), les chercheurs ont eu recours à la ptychographie. Il s’agit d’un procédé informatique qui réunit beaucoup d’images isolées en une seule prise de vue à haute résolution, explique le PSI.

Grâce à un raccourcissement du temps d’exposition et à l’optimisation d’un algorithme, ils ont réussi à battre leur propre record du monde de 2017 (15 nanomètres). Pour parvenir à ce résultat, ils ont utilisé des rayons X et la Source de lumière Suisse (SLS) du PSI. Le résultat de leurs travaux a été publié dans la revue spécialisée Nature.